Sposób bezpośredniego ustalania kierunków poślizgu plastycznego odkształcenia kwazikryształów przy użyciu topografii rentgenowskiej
Abstrakt:
Oceny

Nikt jeszcze nie ocenił tego dokumentu.

Zaloguj się, żeby ocenić.

Przedmiotem wynalazku jest sposób bezpośredniego ustalania kierunków poślizgu plastycznego odkształcenia kwazikryształów przy użyciu topografii rentgenowskiej, charakteryzujący się tym, że w pierwszym etapie przeprowadza się metodą Lauego orientowanie monokwazikryształu, w drugim etapie poddaje się monokwazikryształ jednokierunkowemu rozciąganiu do momentu występowania na jego powierzchni pierwszych linii poślizgu, następnie w trzecim etapie otrzymuje się topogram rentgenowski z badanej powierzchni monokwazikryształu, na którym są widoczne pasma kontrastu wyciągniętych w kierunkach wskazujących rzut na płaszczyznę topogramu kierunków poślizgu plastycznego odkształcenia, po czym w czwartym etapie określa się, któremu z kierunków krystalicznych odpowiadają pasma na topogramie rentgenowskim.
Cookie:
W ramach naszej witryny stosujemy pliki cookies w celu świadczenia Państwu usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Państwa urządzeniu końcowym. Możecie Państwo dokonać w każdym czasie zmiany ustawień dotyczących cookies. Zamknij