Sposób bezpośredniego ustalania kierunków poślizgu plastycznego odkształcenia kwazikryształów przy użyciu topografii rentgenowskiej
Abstract:
Evaluations

Nobody evaluated this document yet.

Login to evaluate.

Przedmiotem wynalazku jest sposób bezpośredniego ustalania kierunków poślizgu plastycznego odkształcenia kwazikryształów przy użyciu topografii rentgenowskiej, charakteryzujący się tym, że w pierwszym etapie przeprowadza się metodą Lauego orientowanie monokwazikryształu, w drugim etapie poddaje się monokwazikryształ jednokierunkowemu rozciąganiu do momentu występowania na jego powierzchni pierwszych linii poślizgu, następnie w trzecim etapie otrzymuje się topogram rentgenowski z badanej powierzchni monokwazikryształu, na którym są widoczne pasma kontrastu wyciągniętych w kierunkach wskazujących rzut na płaszczyznę topogramu kierunków poślizgu plastycznego odkształcenia, po czym w czwartym etapie określa się, któremu z kierunków krystalicznych odpowiadają pasma na topogramie rentgenowskim.
Cookie:
The our website use cookies to provide you with top-quality services, which are personalised to individual needs. Using the website without changing the setting of cookies is that they will be stored on your end device. You can at any time make changes to the settings for cookies. Close